深圳市尘缔科技有限公司专注于半导体失效分析与光电检测设备研发，核心产品包括 LIT1000热红外显微镜 与 LIT1000微光显微镜。公司以自研的 LIT 锁相热成像技术（Lock-in Thermography） 为核心技术支撑，产品广泛应用于芯片热点定位、电路短路检测、微弱发热缺陷分析及可靠性评估等场景。

公司依托南理工高校科研资源，深耕微弱信号检测、锁相算法与图像增强技术，持续提升设备对微小热异常与微弱故障信号的捕捉能力，为半导体制造、封测及科研客户提供高精度、高稳定性的失效分析解决方案。

尘缔科技以工程应用为导向，围绕客户实际检测需求，提供从设备选型、测试分析到应用支持的完整服务，帮助客户提升故障定位效率与分析准确性。

技术领先      自主研发核心技术	专业团队       高素质研发人才	优质服务            全方位客户支持